Verilog 开关级建模
开关级建模是比门级建模更为低级抽象层次上的设计。在极少数情况下,设计者可能会选择使用晶体管作为设计的底层模块。随着电路设计复杂度及相关先进工具的出现,以开关为基础的数字设计慢慢步入黄昏。目前,Verilog 仅仅提供了用逻辑值 0、1、x、z 作为相关驱动强度的数字设计能力,因此,Verilog 中晶体管也仅被当做导通或截止的开关。
1. MOS 开关
MOS 开关有 2 种,用如下关键字声明:
nmos(N 类型 MOS 管) pmos(P 类型 MOS 管) rnmos (带有高阻抗的 NMOS 管) rpmos(带有高阻抗的 PMOS 管)
MOS 管用来为开关逻辑建模,数据从输入流入输出,可通过适当设置来开、关数据流。
带有阻抗的 MOS 管,源极到漏极的阻抗较高,且在传递信号时会减小信号的强度。
MOS 管开关结构图如下所示。
例化时,MOS 管第一个端口为输出端,第二个端口为数据输入端,第三个端口为控制输入端。
//tri pmos pmos1 (OUTX, IN1, CTRL1) ; //no instantiation name nmos (OUTX1, IN1, CTRL2) ;
MOS 管真值表如下所示,与三态门非常相似。
nmos | 控制端 | pmos | 控制端 | |||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
0 | 1 | x | z | 0 | 1 | x | z | |||
0 | z | 0 | 0/z | 0/z | 0 | 0 | z | 0/z | 0/z | |
1 | z | 1 | 1/z | 1/z | 1 | 1 | z | 1/z | 1/z | |
x | z | x | x | x | x | x | z | x | x | |
z | z | x | x | x | z | x | z | x | x |
2. CMOS 开关
CMOS 开关用关键字 cmos 和 rcmos (带有高阻抗)声明。
CMOS 有一个数据输出,一个数据输入和 2 个控制输入,结构示意图如下:
信号 PControl 与 Ncontrol 通常是互补的。当信号 Ncontrol 为 1 且 PControl 为 0 时,开关导通。 当信号 Ncontrol 为 0 且 PControl 为 1 时,开关输出为高阻。可以将 CMOS 开关看做是 NMOS 与 PMOS 开关的组合体。
例化时,CMOS 管第一个端口为输出端,第二个端口为数据输入端,第三个端口为 Ncontrol 控制输入端,第四个端口为 Pcontrol 控制输入端。
CMOS 开关例化格式如下。
//coms cmos c1 (OUTY, IN1, NCTRL, PCTRL) ; //no instantiation name cmos (OUTY1, IN1, NCTRL, PCTRL) ;
既然 CMOS 可以看做是 NMOS 与 PMOS 开关的组合体,所以还可以用这两种 MOS 开关去搭建 CMOS 开关,如下:
//the same 2-way instantiation of cmos nmos n2 (OUTY, IN1, NCTRL) ; pmos p2 (OUTY, IN1, PCTRL) ;
CMOS 真值表与 MOS 开关类似,注意 Ncontrol 与 Pcontrol 信号的互补性。
3. 双向开关
NMOS、PMOS、CMOS 开关门都是从漏极向源极导通,方向是单向的。Verilog 中还提供了双向导通的开关器件,数据可以双向流动,两边的信号都可以是驱动信号。
双向开关及其阻抗模式的关键字声明如下:
tran tranif1 tranif0 rtran rtranif1 rtranif0
双向开关结构图如下:
tran 开关为两个信号直接的缓存,inout1 或 inout2 均可以是驱动信号。
tranif1 仅当 control 信号为 1 时,开关两边的信号导通。当 control 为 0 时,两个信号断开,有驱动源的信号会和驱动源保持一致的信号值,没有驱动源的信号则呈现为高阻状态。
tranif0 同理。
因此,双向开关常用来进行总线或信号之间的隔离。
例化时,双向开关前
两个端口为数据端,第三个端口为 control 控制输入端。
双向开关例化举例如下:
tranif0 tr0 (inout1, inout2, control) ; //no instantiation name tranif1 (inout1, inout2, control) ;
4. 电源和地
晶体管级电路需要源极(Vdd, 逻辑 1)与地极(Vss, 逻辑 0),分别用关键字 supply1 和 supply0 来定义。 用法如下:
supply1 VDD ; supply0 GND ; wire siga = VDD ; //siga is connected to logic 1 wire sigb = GND ; //sign is connected to logic 0
5. PAD 模型仿真
在《Verilog 教程》的《5.1 Verilog 模块与端口》一节中,涉及过 PAD 模型的编写与仿真。下面,利用三态门对 PAD 模型进行重塑,上下拉功能固定,并利用双向开关对 PAD 连接性进行测试。
利用三态门编写的带有 pullup 功能的 pad 模型如下,pulldown 功能的 pad 模型切换下注释即可。
module PADUP( //DIN, pad driver when pad configured as output //OEN, pad direction(1-input, o-output) input DIN, OEN , inout PAD , //pad load when pad configured as input output DOUT ); //input:(not effect pad external input logic), output: DIN->PAD bufif0 (PAD, DIN, OEN) ; //0-output bufif1 (DOUT, PAD, OEN) ; //1-input pullup (PAD); //pulldown (PAD); //pulldown endmodule
利用双向开关控制 PAD IO 连接性的 testbench 编写如下。
测试流程为 PAD0/1 互连,然后 PAD0 作为输出,PAD1 作为输入,驱动 PAD0, 读取 PAD1 的值。然后两者方向各自取反,驱动 PAD1 读取 PAD0 的值。
PAD2/3 测试过程完全一样。
`timescale 1ns/1ns module test ; parameter PULL_UP = 1 ; parameter PULL_DOWN = 0 ; parameter IO0_OUT = 0 ; parameter IO1_OUT = 1 ; parameter IO2_OUT = 2 ; parameter IO3_OUT = 3 ; parameter IO0_IN = 0 ; parameter IO1_IN = 1 ; parameter IO2_IN = 2 ; parameter IO3_IN = 3 ; reg [3:0] DIN, OEN ; wire [3:0] DOUT ; wire [3:0] PAD ; //test connection control, using tranif1 reg [1:0] con_ena ; tranif1 (PAD[0], PAD[1], con_ena[0]); tranif1 (PAD[2], PAD[3], con_ena[1]); reg err = 0; task test_io_conn; //test pull input pull_type ; //test conn input [1:0] xout ; //output postion input [1:0] yin ; //output postion DIN[xout] = ~pull_type ; # 20 ; if (DOUT[yin] != ~pull_type) begin $display("write value and get value is: %h, %h", ~pull_type, DOUT[yin]); err |= 1 ; end DIN[xout] = pull_type; # 20 ; if (DOUT[yin] != pull_type) begin $display("write value and get value is: %h, %h", pull_type, DOUT[yin]); err |= 1 ; end endtask initial begin con_ena = 2'b01 ; OEN = 4'b1111 ; #13 ; //test between io0/io1 OEN[0] = 0 ; OEN[1] = 1 ; //gpio0 -> gpio1 test_io_conn(PULL_UP, IO0_OUT, IO1_IN); OEN[1] = 0 ; OEN[0] = 1 ; //gpio0 -> gpio1 test_io_conn(PULL_UP, IO1_OUT, IO0_IN); OEN = 4'b1111 ; con_ena = 2'b10 ; OEN[2] = 1'b0 ; OEN[3] = 1'b1 ; test_io_conn(PULL_DOWN, IO2_OUT, IO3_IN); OEN[3] = 1'b0 ; OEN[2] = 1'b1 ; test_io_conn(PULL_DOWN, IO3_OUT, IO2_IN); end PADUP u_pad_up0( DIN[0], OEN[0], PAD[0], DOUT[0]) ; PADUP u_pad_up1( DIN[1], OEN[1], PAD[1], DOUT[1]) ; PADDOWN u_pad_down3( DIN[2], OEN[2], PAD[2], DOUT[2]) ; PADDOWN u_pad_down4( DIN[3], OEN[3], PAD[3], DOUT[3]) ; initial begin forever begin #100; //$display("---gyc---%d", $time); if ($time >= 1000) begin $finish ; end end end endmodule // test
仿真结果如下。
由图可知,13ns 之内,4 个 PAD 均为输入时,PAD 值均与 pull 功能对应,即 PAD0-1 均有上拉功能,PAD2-3 均有下拉功能。
13-53ns 之内,PAD0 作为输出,PAD1 作为输入,并且相连,两者的逻辑值变化一致。同理,53ns-93ns 之内,PAD1 作为输出,PAD0 作为输入, 相连状态下两者逻辑值也是一致的。这说明 PAD0/1 的输入输出功能都是正常的。
PAD2/3 结果也类似,这里不再做说明。
下一章:Verilog 门延迟
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